Keller 红外测温仪｜研发校准与精密测温解决方案
在科研开发与精密检测领域，温度测量的精准度、稳定性与可追溯性，直接影响实验数据可靠性、产品校准质量与技术研发进度。Keller 红外测温仪针对研发校准、灯丝、发光带、质谱仪等高精度场景，提供非接触、高分辨率、可溯源的测温方案，适配微小目标与特殊工况，为科研与工业精密测量提供稳定支撑。
一、研发与校准测温方案
研发与校准场景对测温精度、对准便捷性与数据溯源性要求严苛。Keller 高温计采用优化光学设计与标准化校准配置，满足实验室高精度测量与仪器校准需求。
推荐型号：
PT 120 AF 1 /D ，PT 140 AF 1 /D，PT 110 AF 1 /D，PT 128 AF 10 /D
方案优势：
- 采用镜内瞄准方式，便于精准对准被测目标
- 每种高温计均配备比对标准器，保障测量溯源性
- 自带温度读数显示，可安装于三脚架使用，适配灵活布设需求
二、灯丝测温方案
白炽灯丝、X 光管灯丝等微小高温目标，需高分辨率光学系统与专业校准适配。Keller 高温计可精准捕捉微小目标温度，适配灯丝辐射特性研究与老化检测。
推荐型号：
PV 11 AF 1 /D，PA 40-K031
方案优势：
- 采用镜内瞄准，便于精准对准微小灯丝
- 高分辨率镜头，可对小型物体进行测量
- 支持钨材料校准，适配钨制灯丝测温场景
三、发光带测温方案
发光带（热辐射带）温度监测需兼顾对准精度与微小区域测量能力。Keller 红外测温仪凭借专用光学配置，适配发光带高精度测温需求。
推荐型号：
PA 43-K002
方案优势：
- 采用镜内瞄准，便于精准对准测量区域
- 高分辨率镜头，可对小型物体进行测量
- 支持钨材料校准，适配高温发光带测温
四、质谱仪测温方案
质谱仪核心部件（如加热元件、微小样品台）需在真空或特殊环境下精准测温。Keller 高温计适配质谱仪工况，提供稳定、非接触的温度监测。
推荐型号：
PA 40 AF 92 /D，PA 40 AF 93 /D，PA 40 AF 96 /D
方案优势：
- 采用镜内瞄准，便于精准对准质谱仪微小测温点
- 适配镜头，可对小型物体进行测量
- 支持钨材料校准，满足质谱仪高精度测温要求
核心技术特点
- 高精度光学设计
镜内瞄准与高分辨率镜头，适配微小目标（如灯丝、小型元件）精准测温。
- 标准化校准配置
配备比对标准器，支持钨材料校准，保障测量数据可追溯、精度稳定。
- 灵活适配特殊工况
非接触测温适配真空、高温等场景；可搭配三脚架，满足实验室灵活布设需求。
- 科研级数据可靠性
优化光学与传感器技术，降低环境干扰，为研发实验与校准提供稳定数据支撑。
Keller 红外测温仪聚焦科研校准与精密测温场景，为灯丝、发光带、质谱仪等微小 / 特殊目标提供成熟、高精度的测温解决方案，助力科研机构与企业提升研发效率、保障校准质量。